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상품 정보
상품 상세설명
Wafer PDMS Stamp Microscope Inspection System
(PDMS 본딩 & 활성화 시험 장치)
Model : ST-JMK-4Axis-PDMS
WAFER PDMS (polydimethylsiloxane의 약자로 유기 규소 화합물) 재료 시험 목적XYZR 구성을 통한 WAFER 회전, 위치 이동 가능PDMS 연구 목적에 맞는 Z축 빠른 속도 이동 (서보 모터 장착)고배율 현미경으로 PDMS 필링 작업 후 관찰 가능올림푸스, 니콘, 라이카, 자이스 현미경 장착 가능 
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Wafer
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LED조명확
201,960
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비디오메타
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5상 중공축
132,000
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본드암 (기
57,200
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2상 클로즈
414,700
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도립식 본드
70,400
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써니 쌍안헤
451,000
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MLA 진공
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모션 컨트롤
217,800
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써니 위상차
0
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리니어 모션
1,133,000
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리니어 모션
940,500
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써니 도립형
0
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리넨테스터
23,540
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XYZ 고하
0
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퀵비디오메타
0
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리니어 모션
1,133,000
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C마운트 (
85,800
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비디오메타(
0
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I-Robo
0
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2상 모터
84,700
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[ST-VK
0
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모션 컨트롤
280,500
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비디오메타
0
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슬라이드홀더
0
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2상 클로즈
393,800
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범용 단말기
0
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Camera
0
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본드암 [S
57,200
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리니어 모션
940,500
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Specia
880,000
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5상 축형
196,900
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XYZR A
1,320,000
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주문형 지그
0
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스캔비디오메
0
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SO-504
0
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컨트롤러 일
480,700
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[XY-RS
96,800
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리넨테스터
27,940
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마스크 정렬
0
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현미경스탠드
419,100
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샘플 위치
0
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알루미늄 브
267,300
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5상 축형
154,000
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XY 스테이
0
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비디오메타(
0
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알루미늄 브
447,700
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Wafer
0
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써니 도립형
0
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필름 섬유
0

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